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Jha – Testing and Reliable Design of CMOS Circuits

Libro adottato a Bologna, a.a. 2026/2027 · 4 canali

«Jha – Testing and Reliable Design of CMOS Circuits» è adottato per Test, Diagnosis And Reliability M dal prof. Cecilia Metra (Electric Vehicle Engineering, Electronic Engineering for Intelligent Vehicles – Bologna); per Reliable Data Processing And Storage For Intelligent Systems M dal prof. Cecilia Metra (Ingegneria elettronica – Bologna); per Sistemi Elettronici Ad Alta Affidabilita' e Resilienza M dal prof. Cecilia Metra (Ingegneria elettronica – Bologna).

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Come lo indica il docente: N. K. Jha, S. Kundu, “Testing and Reliable Design of CMOS Circuits”, Kluwer Academic Publishers, 1990

Titolo
Testing and reliable design of cmos circuits
Autori
Niraj K. by Niraj K. Jha and Sandip Kundu Jha
Editore
Kluwer, 1990
ISBN
9780792390565

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