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Prof. Cecilia Metra

Alma Mater Studiorum - Università di Bologna · Ingegneria e architettura · libri consigliati e cosa studiare, a.a. 2026/2027

Libri adottati dal prof. Cecilia Metra

Materie del prof. Cecilia Metra

Test, Diagnosis And Reliability M Canale unico

Corso di laurea: Electric Vehicle Engineering · Laurea magistrale (LM-28) · esame facoltativo · 6 CFU

Bologna · Ingegneria e architettura · 6 CFU · apri nel catalogo · Electric Vehicle Engineering · 2º anno · 1º semestre ›

Bushnell – Essential of Electronic TestingCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 02/10/2026
Mourad – Principles of Testing Electronic SystemsCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 02/10/2026
Bacheca del docente: cosa indica di studiare

Argomenti del programma: Introduzione al collaudo di circuiti e sistemi elettronici digitali Definizioni e motivazioni Collocazione all'interno del processo di realizzazione di chip VLSI Resa del processo e costo di produzione di un circuito integrato Alcuni tipi di collaudo: Characterization Testing; Manufacturing Testing; Burn-In; Incoming Inspection Modelli di guasto Guasti di tipo stuck-at: principi di base sul collaudo nei confronti di…

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Test, Diagnosis And Reliability M Canale unico

Corso di laurea: Electronic Engineering for Intelligent Vehicles · Laurea magistrale (LM-29) · 1º anno · 1º semestre · 6 CFU

Bologna · Ingegneria e architettura · 6 CFU · apri nel catalogo · Electronic Engineering for Intelligent Vehicles · 1º anno · 1º semestre ›

Bushnell – Essential of Electronic TestingCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 02/10/2026
Mourad – Principles of Testing Electronic SystemsCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 02/10/2026
Bacheca del docente: cosa indica di studiare

Argomenti del programma: Introduzione al collaudo di circuiti e sistemi elettronici digitali Definizioni e motivazioni Collocazione all'interno del processo di realizzazione di chip VLSI Resa del processo e costo di produzione di un circuito integrato Alcuni tipi di collaudo: Characterization Testing; Manufacturing Testing; Burn-In; Incoming Inspection Modelli di guasto Guasti di tipo stuck-at: principi di base sul collaudo nei confronti di…

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Sistemi Elettronici Ad Alta Affidabilita' e Resilienza M Canale unico

Corso di laurea: Ingegneria elettronica · Laurea magistrale (LM-29) · esame facoltativo · Ingegneria elettronica · 6 CFU

Bologna · Ingegneria e architettura · 6 CFU · apri nel catalogo · Ingegneria elettronica · 2º anno · 1º semestre ›

Bushnell – Essential of Electronic TestingCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 02/10/2026
Mourad – Principles of Testing Electronic SystemsCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 02/10/2026
Bacheca del docente: cosa indica di studiare

Argomenti del programma: Introduzione al collaudo di circuiti e sistemi elettronici digitali Definizioni e motivazioni Collocazione all'interno del processo di realizzazione di chip VLSI Resa del processo e costo di produzione di un circuito integrato Alcuni tipi di collaudo: Characterization Testing; Manufacturing Testing; Burn-In; Incoming Inspection Principali meccanismi di guasto Elettromigrazione: descrizione fenomeno ed esempi;…

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Lab Of Reliable Intelligent Systems M Canale unico

Corso di laurea: Ingegneria elettronica · Laurea magistrale (LM-29) · 2º anno · 1º semestre · 3 CFU

Bologna · Ingegneria e architettura · 3 CFU · apri nel catalogo

Il docente non ha ancora pubblicato i testi per questo canale.

Bacheca del docente: cosa indica di studiare

Argomenti del programma: Esercizio di analisi e progettazione di circuiti e sistemi ad alta affidabilità da effettuarsi con l'ausilio di tool CAD (HSPICE e/o Synopsys Design Compiler).

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Reliable Data Processing And Storage For Intelligent Systems M Canale unico

Corso di laurea: Ingegneria elettronica · Laurea magistrale (LM-29) · 1º anno · 2º semestre · Electronics for intelligent systems, big-data and internet of things · 6 CFU

Bologna · Ingegneria e architettura · 6 CFU · apri nel catalogo · Ingegneria elettronica · 1º anno · 2º semestre ›

Bushnell – Essential of Electronic TestingCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 02/10/2026
Mourad – Principles of Testing Electronic SystemsCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 02/10/2026
Bacheca del docente: cosa indica di studiare

Argomenti del programma: Introduzione ai Sistemi Intelligenti Affidabili Definizioni e motivazioni Progettazione per aumentare l’affidabilità all'interno del processo di progettazione e fabbricazione Resa del processo e costo di produzione di un circuito integrato Guasti Durante la Fabbricazione e Durante il Funzionamento sul Campo Guasti di tipo Stuck-St (SAs) Equivalenza di guasti e “Fault Collapsing” Dominanza di guasti e “Fault…

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Domande frequenti

Quali libri consiglia il prof. Cecilia Metra per Test, Diagnosis And Reliability M (Electric Vehicle Engineering, canale unico)?

Segura Hawkins – CMOS Electronics – How It Works, How…; Bushnell – Essential of Electronic Testing; Abramovici – Digital Systems Testing and Testable Design; Mourad – Principles of Testing Electronic Systems; Jha – Testing and Reliable Design of CMOS Circuits; Lala – Self-Checking and Fault Tolerant Digital Design

Quali libri consiglia il prof. Cecilia Metra per Test, Diagnosis And Reliability M (Electronic Engineering for Intelligent Vehicles, canale unico)?

Segura Hawkins – CMOS Electronics – How It Works, How…; Bushnell – Essential of Electronic Testing; Abramovici – Digital Systems Testing and Testable Design; Mourad – Principles of Testing Electronic Systems; Jha – Testing and Reliable Design of CMOS Circuits; Lala – Self-Checking and Fault Tolerant Digital Design

Quali libri consiglia il prof. Cecilia Metra per Sistemi Elettronici Ad Alta Affidabilita' e Resilienza M?

Segura Hawkins – CMOS Electronics – How It Works, How…; Bushnell – Essential of Electronic Testing; Abramovici – Digital Systems Testing and Testable Design; Mourad – Principles of Testing Electronic Systems; Jha – Testing and Reliable Design of CMOS Circuits; Lala – Self-Checking and Fault Tolerant Digital Design

Quali libri consiglia il prof. Cecilia Metra per Reliable Data Processing And Storage For Intelligent Systems M?

Segura Hawkins – CMOS Electronics – How It Works, How…; Bushnell – Essential of Electronic Testing; Abramovici – Digital Systems Testing and Testable Design; Mourad – Principles of Testing Electronic Systems; Jha – Testing and Reliable Design of CMOS Circuits; Lala – Self-Checking and Fault Tolerant Digital Design