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Sistemi Elettronici Ad Alta Affidabilita' e Resilienza M – prof. Cecilia Metra

Ingegneria elettronica · Alma Mater Studiorum - Università di Bologna · esame facoltativo · Ingegneria elettronica · 6 CFU · canale unico

Libri del canale

Sistemi Elettronici Ad Alta Affidabilita' e Resilienza M 6 CFU

CMProf. Cecilia Metra Canale unico
Bushnell – Essential of Electronic TestingVerificato sulla scheda ufficiale il 02/10/2026
Mourad – Principles of Testing Electronic SystemsVerificato sulla scheda ufficiale il 02/10/2026
Bacheca del docente: cosa indica di studiare

Argomenti del programma: Introduzione al collaudo di circuiti e sistemi elettronici digitali Definizioni e motivazioni Collocazione all'interno del processo di realizzazione di chip VLSI Resa del processo e costo di produzione di un circuito integrato Alcuni tipi di collaudo: Characterization Testing; Manufacturing Testing; Burn-In; Incoming Inspection Principali meccanismi di guasto Elettromigrazione: descrizione fenomeno ed esempi;…

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Testi d'esame di Sistemi Elettronici Ad Alta Affidabilita' e Resilienza M del prof. Cecilia Metra, canale unico, corso di laurea in Ingegneria elettronica (Laurea magistrale (LM-29)), Alma Mater Studiorum - Università di Bologna, esame facoltativo · Ingegneria elettronica · 6 CFU, a.a. 2026/2027. Libri adottati: Segura Hawkins – CMOS Electronics – How It Works, How…; Bushnell – Essential of Electronic Testing; Abramovici – Digital Systems Testing and Testable Design; Mourad – Principles of Testing Electronic Systems; Jha – Testing and Reliable Design of CMOS Circuits; Lala – Self-Checking and Fault Tolerant Digital Design.

Altre materie del prof. Metra

Vedi anche: Prof. Cecilia Metra · Sistemi Elettronici Ad Alta Affidabilita' e Resilienza M a Bologna (tutti i canali)