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Reliable Data Processing And Storage For Intelligent Systems M – prof. Cecilia Metra

Ingegneria elettronica · Alma Mater Studiorum - Università di Bologna · 1º anno · 2º semestre · Electronics for intelligent systems, big-data and internet of things · 6 CFU · canale unico

Libri del canale

Reliable Data Processing And Storage For Intelligent Systems M 6 CFU

CMProf. Cecilia Metra Canale unico
Segura Hawkins – CMOS Electronics – How It Works, How…Verificato sulla scheda ufficiale il 02/10/2026
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Bushnell – Essential of Electronic TestingVerificato sulla scheda ufficiale il 02/10/2026
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Abramovici – Digital Systems Testing and Testable DesignVerificato sulla scheda ufficiale il 02/10/2026
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Mourad – Principles of Testing Electronic SystemsVerificato sulla scheda ufficiale il 02/10/2026
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Jha – Testing and Reliable Design of CMOS CircuitsVerificato sulla scheda ufficiale il 02/10/2026
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Lala – Self-Checking and Fault Tolerant Digital DesignVerificato sulla scheda ufficiale il 02/10/2026
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Bacheca del docente: cosa indica di studiare

Argomenti del programma: Introduzione ai Sistemi Intelligenti Affidabili Definizioni e motivazioni Progettazione per aumentare l’affidabilità all'interno del processo di progettazione e fabbricazione Resa del processo e costo di produzione di un circuito integrato Guasti Durante la Fabbricazione e Durante il Funzionamento sul Campo Guasti di tipo Stuck-St (SAs) Equivalenza di guasti e “Fault Collapsing” Dominanza di guasti e “Fault…

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Testi d'esame di Reliable Data Processing And Storage For Intelligent Systems M del prof. Cecilia Metra, canale unico, corso di laurea in Ingegneria elettronica (Laurea magistrale (LM-29)), Alma Mater Studiorum - Università di Bologna, 1º anno · 2º semestre · Electronics for intelligent systems, big-data and internet of things · 6 CFU, a.a. 2026/2027. Libri adottati: Segura Hawkins – CMOS Electronics – How It Works, How…; Bushnell – Essential of Electronic Testing; Abramovici – Digital Systems Testing and Testable Design; Mourad – Principles of Testing Electronic Systems; Jha – Testing and Reliable Design of CMOS Circuits; Lala – Self-Checking and Fault Tolerant Digital Design.

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