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Bushnell – Essential of Electronic Testing

Libro adottato a Bologna, a.a. 2026/2027 · 4 canali

«Bushnell – Essential of Electronic Testing» è adottato per Test, Diagnosis And Reliability M dal prof. Cecilia Metra (Electric Vehicle Engineering, Electronic Engineering for Intelligent Vehicles – Bologna); per Reliable Data Processing And Storage For Intelligent Systems M dal prof. Cecilia Metra (Ingegneria elettronica – Bologna); per Sistemi Elettronici Ad Alta Affidabilita' e Resilienza M dal prof. Cecilia Metra (Ingegneria elettronica – Bologna).

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Come lo indica il docente: M. L. Bushnell, V. D. Agrawal, “Essential of Electronic Testing”, Kluwer Academic Publishers, 2000

Chi lo adotta

Programma e testi di ogni canale

Test, Diagnosis And Reliability M – Prof. Cecilia Metra Canale unico

Corso di laurea: Electric Vehicle Engineering · Laurea magistrale (LM-28) · esame facoltativo · 6 CFU

Bologna · Ingegneria e architettura · 6 CFU · apri nel catalogo · Electric Vehicle Engineering · 2º anno · 1º semestre ›

Segura Hawkins – CMOS Electronics – How It Works, How…Cerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 02/10/2026
Bushnell – Essential of Electronic Testingquesto libroCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 02/10/2026
Abramovici – Digital Systems Testing and Testable DesignCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 02/10/2026
Mourad – Principles of Testing Electronic SystemsCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 02/10/2026
Jha – Testing and Reliable Design of CMOS CircuitsCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 02/10/2026
Lala – Self-Checking and Fault Tolerant Digital DesignCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 02/10/2026
Bacheca del docente: cosa indica di studiare

Argomenti del programma: Introduzione al collaudo di circuiti e sistemi elettronici digitali Definizioni e motivazioni Collocazione all'interno del processo di realizzazione di chip VLSI Resa del processo e costo di produzione di un circuito integrato Alcuni tipi di collaudo: Characterization Testing; Manufacturing Testing; Burn-In; Incoming Inspection Modelli di guasto Guasti di tipo stuck-at: principi di base sul collaudo nei confronti di…

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Test, Diagnosis And Reliability M – Prof. Cecilia Metra Canale unico

Corso di laurea: Electronic Engineering for Intelligent Vehicles · Laurea magistrale (LM-29) · 1º anno · 1º semestre · 6 CFU

Bologna · Ingegneria e architettura · 6 CFU · apri nel catalogo · Electronic Engineering for Intelligent Vehicles · 1º anno · 1º semestre ›

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Bacheca del docente: cosa indica di studiare

Argomenti del programma: Introduzione al collaudo di circuiti e sistemi elettronici digitali Definizioni e motivazioni Collocazione all'interno del processo di realizzazione di chip VLSI Resa del processo e costo di produzione di un circuito integrato Alcuni tipi di collaudo: Characterization Testing; Manufacturing Testing; Burn-In; Incoming Inspection Modelli di guasto Guasti di tipo stuck-at: principi di base sul collaudo nei confronti di…

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Reliable Data Processing And Storage For Intelligent Systems M – Prof. Cecilia Metra Canale unico

Corso di laurea: Ingegneria elettronica · Laurea magistrale (LM-29) · 1º anno · 2º semestre · Electronics for intelligent systems, big-data and internet of things · 6 CFU

Bologna · Ingegneria e architettura · 6 CFU · apri nel catalogo · Ingegneria elettronica · 1º anno · 2º semestre ›

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Lala – Self-Checking and Fault Tolerant Digital DesignCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 02/10/2026
Bacheca del docente: cosa indica di studiare

Argomenti del programma: Introduzione ai Sistemi Intelligenti Affidabili Definizioni e motivazioni Progettazione per aumentare l’affidabilità all'interno del processo di progettazione e fabbricazione Resa del processo e costo di produzione di un circuito integrato Guasti Durante la Fabbricazione e Durante il Funzionamento sul Campo Guasti di tipo Stuck-St (SAs) Equivalenza di guasti e “Fault Collapsing” Dominanza di guasti e “Fault…

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Sistemi Elettronici Ad Alta Affidabilita' e Resilienza M – Prof. Cecilia Metra Canale unico

Corso di laurea: Ingegneria elettronica · Laurea magistrale (LM-29) · esame facoltativo · Ingegneria elettronica · 6 CFU

Bologna · Ingegneria e architettura · 6 CFU · apri nel catalogo · Ingegneria elettronica · 2º anno · 1º semestre ›

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Bacheca del docente: cosa indica di studiare

Argomenti del programma: Introduzione al collaudo di circuiti e sistemi elettronici digitali Definizioni e motivazioni Collocazione all'interno del processo di realizzazione di chip VLSI Resa del processo e costo di produzione di un circuito integrato Alcuni tipi di collaudo: Characterization Testing; Manufacturing Testing; Burn-In; Incoming Inspection Principali meccanismi di guasto Elettromigrazione: descrizione fenomeno ed esempi;…

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