Libri UniversitariApri il catalogo

Test, Diagnosis And Reliability M – Bologna

Alma Mater Studiorum - Università di Bologna · Ingegneria e architettura · tutti i canali con docenti e libri, a.a. 2026/2027

Prof. Cecilia Metra Canale unico

Corso di laurea: Electric Vehicle Engineering · Laurea magistrale (LM-28) · esame facoltativo · 6 CFU

Bologna · Ingegneria e architettura · 6 CFU · apri nel catalogo · Electric Vehicle Engineering · 2º anno · 1º semestre ›

Bushnell – Essential of Electronic TestingCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 02/10/2026
Mourad – Principles of Testing Electronic SystemsCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 02/10/2026
Bacheca del docente: cosa indica di studiare

Argomenti del programma: Introduzione al collaudo di circuiti e sistemi elettronici digitali Definizioni e motivazioni Collocazione all'interno del processo di realizzazione di chip VLSI Resa del processo e costo di produzione di un circuito integrato Alcuni tipi di collaudo: Characterization Testing; Manufacturing Testing; Burn-In; Incoming Inspection Modelli di guasto Guasti di tipo stuck-at: principi di base sul collaudo nei confronti di…

Apri la scheda ufficiale ›
Aiutaci a tenerci aggiornati
Il prof ha indicato altri libri, pagine o modifiche? Scrivicelo.

Prof. Cecilia Metra Canale unico

Corso di laurea: Electronic Engineering for Intelligent Vehicles · Laurea magistrale (LM-29) · 1º anno · 1º semestre · 6 CFU

Bologna · Ingegneria e architettura · 6 CFU · apri nel catalogo · Electronic Engineering for Intelligent Vehicles · 1º anno · 1º semestre ›

Bushnell – Essential of Electronic TestingCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 02/10/2026
Mourad – Principles of Testing Electronic SystemsCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 02/10/2026
Bacheca del docente: cosa indica di studiare

Argomenti del programma: Introduzione al collaudo di circuiti e sistemi elettronici digitali Definizioni e motivazioni Collocazione all'interno del processo di realizzazione di chip VLSI Resa del processo e costo di produzione di un circuito integrato Alcuni tipi di collaudo: Characterization Testing; Manufacturing Testing; Burn-In; Incoming Inspection Modelli di guasto Guasti di tipo stuck-at: principi di base sul collaudo nei confronti di…

Apri la scheda ufficiale ›
Aiutaci a tenerci aggiornati
Il prof ha indicato altri libri, pagine o modifiche? Scrivicelo.