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Testing And Fault Tolerance – Politecnico di Torino

Politecnico di Torino · Dipartimento di Automatica e Informatica · tutti i canali con docenti e libri, a.a. 2026/2027

Prof. Matteo Sonza Reorda Canale unico

Corso di laurea: Ingegneria Informatica (Computer Engineering) · Laurea magistrale (LM-32) · 2º anno · 1º semestre · Embedded & Smart System Design · 6 CFU

Politecnico di Torino · Dipartimento di Automatica e Informatica · 6 CFU · apri nel catalogo · Ingegneria Informatica (Computer Engineering) · 2º anno · 1º semestre ›

M. Bushnell, V. Agrawal

Kluwer Academic Publisher, 2000Cerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 02/10/2026
Bacheca del docente: cosa indica di studiare
  • Slides will be provided to students registered to the course through the Student Teaching Portal, as well as any additional non-copyrighted information material that will be used in the course.

Argomenti del programma: 1. Introduction to test and dependability (1 credit) a. Dependability: definition, attributes b. Fault models (temporary and transient): stuck-at, bridge, open, delay, SEU, SET c. Test of ICs, boards and systems d. Defect level: definition and evaluation e. ATEs 2. Techniques and tools for generating test stimuli for combinational and sequential modules (1 credit) a. Fault simulation b.

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Prof. Matteo Sonza Reorda Canale unico

Corso di laurea: Ingegneria Elettronica (Electronic Engineering) · Laurea magistrale (LM-29) · 2º anno · 1º semestre · Embedded systems · 6 CFU

Politecnico di Torino · Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni · 6 CFU · apri nel catalogo · Ingegneria Elettronica (Electronic Engineering) · 2º anno · 1º semestre ›

M. Bushnell, V. Agrawal

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  • Slides will be provided to students registered to the course through the Student Teaching Portal, as well as any additional non-copyrighted information material that will be used in the course.

Argomenti del programma: 1. Introduction to test and dependability (1 credit) a. Dependability: definition, attributes b. Fault models (temporary and transient): stuck-at, bridge, open, delay, SEU, SET c. Test of ICs, boards and systems d. Defect level: definition and evaluation e. ATEs 2. Techniques and tools for generating test stimuli for combinational and sequential modules (1 credit) a. Fault simulation b.

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