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Kluwer Academic Publisher, 2000

Libro adottato a Politecnico di Torino, a.a. 2026/2027 · 2 canali

«Kluwer Academic Publisher, 2000» è adottato per Testing And Fault Tolerance dal prof. Matteo Sonza Reorda (Ingegneria Elettronica (Electronic Engineering), Ingegneria Informatica (Computer Engineering) – Politecnico di Torino).

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Come lo indica il docente: Kluwer Academic Publisher, 2000

Chi lo adotta

Programma e testi di ogni canale

Testing And Fault Tolerance – Prof. Matteo Sonza Reorda Canale unico

Corso di laurea: Ingegneria Elettronica (Electronic Engineering) · Laurea magistrale (LM-29) · 2º anno · 1º semestre · Embedded systems · 6 CFU

Politecnico di Torino · Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni · 6 CFU · apri nel catalogo · Ingegneria Elettronica (Electronic Engineering) · 2º anno · 1º semestre ›

M. Bushnell, V. Agrawal

Kluwer Academic Publisher, 2000questo libroCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 02/10/2026
Bacheca del docente: cosa indica di studiare
  • Slides will be provided to students registered to the course through the Student Teaching Portal, as well as any additional non-copyrighted information material that will be used in the course.

Argomenti del programma: 1. Introduction to test and dependability (1 credit) a. Dependability: definition, attributes b. Fault models (temporary and transient): stuck-at, bridge, open, delay, SEU, SET c. Test of ICs, boards and systems d. Defect level: definition and evaluation e. ATEs 2. Techniques and tools for generating test stimuli for combinational and sequential modules (1 credit) a. Fault simulation b.

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Testing And Fault Tolerance – Prof. Matteo Sonza Reorda Canale unico

Corso di laurea: Ingegneria Informatica (Computer Engineering) · Laurea magistrale (LM-32) · 2º anno · 1º semestre · Embedded & Smart System Design · 6 CFU

Politecnico di Torino · Dipartimento di Automatica e Informatica · 6 CFU · apri nel catalogo · Ingegneria Informatica (Computer Engineering) · 2º anno · 1º semestre ›

M. Bushnell, V. Agrawal

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Bacheca del docente: cosa indica di studiare
  • Slides will be provided to students registered to the course through the Student Teaching Portal, as well as any additional non-copyrighted information material that will be used in the course.

Argomenti del programma: 1. Introduction to test and dependability (1 credit) a. Dependability: definition, attributes b. Fault models (temporary and transient): stuck-at, bridge, open, delay, SEU, SET c. Test of ICs, boards and systems d. Defect level: definition and evaluation e. ATEs 2. Techniques and tools for generating test stimuli for combinational and sequential modules (1 credit) a. Fault simulation b.

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