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Electron And Scanning Probe Microscopy – Politecnico di Milano

Politecnico di Milano · Scuola di Ingegneria Industriale e dell'Informazione · tutti i canali con docenti e libri, a.a. 2026/2027

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Corso di laurea: Engineering Physics · Laurea triennale · esame facoltativo · 5 CFU / 2º anno · 1º semestre · 5 CFU

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Testi consigliati (facoltativi)

Egerton – Physical Principles of Electron MicroscopyCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 03/10/2026
Colliex – La microscopie éléctroniqueCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 03/10/2026
Watt – The principles and Practice of Electron MicroscopyCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 03/10/2026
Unknown – A practical guide to Scanning Probe MicroscopyCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 03/10/2026
Meyer – Scanning Probe MicroscopyCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 03/10/2026
Bacheca del docente: cosa indica di studiare

Argomenti del programma: Topics - Probes with high spatial resolution and state of the art in research and applications. - Interaction of free electrons and bound electrons with matter. - Information obtained by using electronic probes. - Numerical modeling of electron transport in beams and electron -matter interaction.

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Corso di laurea: Ingegneria Fisica · Laurea triennale · 3º anno · 1º semestre · 5 CFU

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Testi consigliati (facoltativi)

Egerton – Physical Principles of Electron MicroscopyCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 03/10/2026
Colliex – La microscopie éléctroniqueCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 03/10/2026
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Unknown – A practical guide to Scanning Probe MicroscopyCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 03/10/2026
Meyer – Scanning Probe MicroscopyCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 03/10/2026
Bacheca del docente: cosa indica di studiare

Argomenti del programma: Topics - Probes with high spatial resolution and state of the art in research and applications. - Interaction of free electrons and bound electrons with matter. - Information obtained by using electronic probes. - Numerical modeling of electron transport in beams and electron -matter interaction.

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Corso di laurea: Materials Engineering and Nanotechnology · Laurea triennale · esame facoltativo · 5 CFU

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Testi consigliati (facoltativi)

Egerton – Physical Principles of Electron MicroscopyCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 03/10/2026
Colliex – La microscopie éléctroniqueCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 03/10/2026
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Bacheca del docente: cosa indica di studiare

Argomenti del programma: Topics - Probes with high spatial resolution and state of the art in research and applications. - Interaction of free electrons and bound electrons with matter. - Information obtained by using electronic probes. - Numerical modeling of electron transport in beams and electron -matter interaction.

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Corso di laurea: Mechanical Engineering - BV,PC · Laurea triennale · 2º anno · 1º semestre · Micro and nano systems · 5 CFU

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Testi consigliati (facoltativi)

Egerton – Physical Principles of Electron MicroscopyCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 03/10/2026
Colliex – La microscopie éléctroniqueCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 03/10/2026
Watt – The principles and Practice of Electron MicroscopyCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 03/10/2026
Unknown – A practical guide to Scanning Probe MicroscopyCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 03/10/2026
Meyer – Scanning Probe MicroscopyCerca su Amazon ›Verificato sulla scheda ufficiale il 03/10/2026
Bacheca del docente: cosa indica di studiare

Argomenti del programma: Topics - Probes with high spatial resolution and state of the art in research and applications. - Interaction of free electrons and bound electrons with matter. - Information obtained by using electronic probes. - Numerical modeling of electron transport in beams and electron -matter interaction.

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